產(chǎn)品中心
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半導(dǎo)體光學(xué)檢測(cè)系列
18698665927
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碳化硅襯底檢測(cè)的重要性與方法
創(chuàng)銳光譜堅(jiān)持自主創(chuàng)新、技術(shù)獨(dú)立 推進(jìn)高端科研儀器國(guó)產(chǎn)化替代和前沿引領(lǐng)
時(shí)間分辨熒光光譜的數(shù)據(jù)分析方法
提高超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)校準(zhǔn)精度的方法與技術(shù)
光電流成像技術(shù)的原理與應(yīng)用
深紫外熒光系統(tǒng)的原理和特點(diǎn)
鈣鈦礦太陽(yáng)能電池綜合性檢測(cè)分析系統(tǒng)檢測(cè)時(shí)間<10 min(10cm*10cm) 空間分辨率20 μm/100μm。
服務(wù)熱線(xiàn):18698665927